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硅/硅直接键合SDB硅片的减薄研究
作者姓名:陈军宁 傅兴华
作者单位:复旦大学电子工程系,贵州大学物理系
摘    要:研究了硅/硅直接键合SDB硅片的精密机械/化学抛光减薄方法,进行了实验,分析了减薄后工作硅膜的平整性和膜厚的均匀性等重要技术指标,讨论了影响这些技术指标的因素。

关 键 词:抛光 减薄 硅/硅直接键合 硅片
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