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爱德万测试发布最新高速存储器测试系统T5511
摘 要:
近日,爱德万测试发布了下一代高速DRAM测试系统T5511。T5511是爱德万测试的最新产品,是迄今为止业界最高测试速度(8Gbps)的存储器测试系统,可支持高速的GDDR5一SDRAM芯片测试,并具有扩展功能。因为T5511所有的测试管脚都可支持8Gbps的速度,所以在高速运行的时候,可以保证最大同测效率而不受任何影响。
关 键 词:
测试系统
高速存储器
SDRAM
测试速度
芯片测试
扩展功能
高速运行
管脚
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