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华虹NEC携手Advantest成功开发RFID芯片多同测解决方案
摘 要:
上海华虹NEC电子有限公司与爱德万测试(Advantest)近日共同宣布,已成功合作开发ISO14443协议标准的RFID芯片晶圆级大规模多同测解决方案,并正式进入量产阶段。结合华虹NEC在智能卡和安全类芯片领域先进的生产工艺和测试开发能力,华虹NEC与Advantest共同开发出的测试方案,能迅速准确地进行RFID反馈识别,其量产测试良率亦得到大客户认可。
关 键 词:
上海华虹NEC电子有限公司
Advantest
RFID芯片
合作开发
ISO14443
测试方案
协议标准
开发能力
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