| 一种集成电路芯片测试分选机的设计 |
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| 引用本文： | 苏建国,胡汉球.一种集成电路芯片测试分选机的设计[J].南通纺织职业技术学院学报,2015(2):1-3. |
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| 作者姓名： | 苏建国 胡汉球 |
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| 作者单位： | 南通华达微电子集团有限公司 |
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| 基金项目： | 国家科技重大专项“极大规模集成电路制造装备及成套工艺”(编号2009ZX02010-26) |
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| 摘 要： | 设计了一种转塔式测试分选机,用于极小型半导体器件的测试、打标、分选和编带。此设备处理速度快,检测分选效率高,对半导体器件损伤小,可以大规模用于极小型半导体器件的测试分选。
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| 关 键 词： | CCD检测 FPGA 集成电路 测试分选机 |
The Design of Testing Sorter Based on Integrated Circuit Chip |
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| SU Jian-guo;HU Han-qiu.The Design of Testing Sorter Based on Integrated Circuit Chip[J].Journal of Nantong Textile Vocational Technology college,2015(2):1-3. |
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| Authors: | SU Jian-guo;HU Han-qiu |
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| Affiliation: | SU Jian-guo;HU Han-qiu;Nantong Huada Microelectronics Group Co.,LTD.; |
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