| 基于BIST的动态可重构FPGA的时延故障测试方法 |
| |
| 引用本文： | 何怡刚,杜社会,阳辉,方葛丰.基于BIST的动态可重构FPGA的时延故障测试方法[J].计算机测量与控制,2009,17(1):5-8. |
| |
| 作者姓名： | 何怡刚 杜社会 阳辉 方葛丰 |
| |
| 作者单位： | 湖南大学电气与信息工程学院,湖南,长沙,410082 |
| |
| 基金项目： | 国家自然科学基金，高等学校博士学科点专项科研基金，国家高技术研究发展计划(863计划)，湖南省科技计划基金，教育部新世纪优秀人才支持计划 |
| |
| 摘 要： | FPGA市场已经进入极速发展时代,不同的销售商已向市场投入更多更快的FPGA器件。随着FPGA器件的迅速发展,FP-GA的密度和复杂程度也越来越高,使大量的故障难以使用传统方法进行测试,因此,对FPGA器件的故障测试和故障诊断方法进行更全面的研究具有重要意义。为此重点研究了动态重构FPGA及其基本结构、特点;在此基础上探讨了基于BIST技术的FPGA时延故障测试方法,并成功应用于Lattice ORCA 2C系列FPGA中。实验证明,该BIST方法是可行且有效的,并且不需要昂贵的ATE设备。
|
| 关 键 词： | BIST FPGA 动态可重构 时延故障 |
BIST-Based Delay-Fault Testing in Dynamic Reconfiguration FPGAs |
| |
| He Yigang,Du Shehui,Yang Hui,Fang Gefeng.BIST-Based Delay-Fault Testing in Dynamic Reconfiguration FPGAs[J].Computer Measurement & Control,2009,17(1):5-8. |
| |
| Authors: | He Yigang Du Shehui Yang Hui Fang Gefeng |
| |
| Affiliation: | Faculty of Electrical and Information Engineering;Hunan University;Changsha 410082;China |
| |
| Abstract: | The FPGA market has evolved at an extremely rapid pace with larger and faster devices being released to the industry by different vendors.With the fast expand of FPGA devices,the structure of FPGA becomes more complex.a large number of faults is difficult to use traditional methods for testing,Therefore,the FPGA device fault testing and fault diagnosis method for a more comprehensive study is of great significance.This paper presents a basic structure and feature of currently available dynamically reconfigu... |
| |
| Keywords: | BIST FPGA |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
|
