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可控硅整流控制系统异常的原因分析和调试
引用本文:徐瑞雯. 可控硅整流控制系统异常的原因分析和调试[J]. 中国氯碱, 2001, 0(6): 10-11,19
作者姓名:徐瑞雯
作者单位:浙江善高化学有限公司,宁波,315801
摘    要:从用户的角度出发,介绍了美国ENERPRO公司研制的调节、触发板用于大电流电解整流可控硅元件控制的运行情况,分析了装置运行一段时间后整流系统不稳的原因是控制参数、保护限位值发生了偏移,提出了对其参数进行重新整定的依据。

关 键 词:可控硅整流控制系统 整流柜 触发 限位值 整定 调试

Analysis about the abnorma cause of silicon controlled rectifying control system and its debugging
Xu Ruiwen. Analysis about the abnorma cause of silicon controlled rectifying control system and its debugging[J]. China Chlor-Alkali, 2001, 0(6): 10-11,19
Authors:Xu Ruiwen
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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