|
|||||
|
|
| 先进的测试平台简化多总线器件测试 | |
| 作者姓名： | MikeKondrat |
| 作者单位： | 科利登系统公司,美国加州弗雷蒙特 |
| 摘 要： | 多总线作为不使用片上高速缓存的情况下在最大化系统生产能力、成本效率较高的机制下已经有很长的应用时间.测试早期的器件,工程师可以使用某些能够提供双时域能力的自动化测试设备(ATE)应对相对简单的总线结构. |
| 关 键 词： | 测试平台 多总线器件 自动化测试设备 多时钟域 SoC测试系统 |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ | |
|
||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||
|
|
|
|
| 设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏 |
|
Copyright©北京勤云科技发展有限公司 京ICP备09084417号 |