首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

EDX-LE型X射线能谱仪测试银饰品含量的条件设置
引用本文:高孔,伍婉仪,陈诗丹. EDX-LE型X射线能谱仪测试银饰品含量的条件设置[J]. 计量与测试技术, 2015, 42(1): 1-3
作者姓名:高孔  伍婉仪  陈诗丹
作者单位:华南理工大学广州学院;广州市华广珠宝检测有限公司,广东广州510800
基金项目:华南理工大学广州学院学生研究项目“XRF测试条件分析与控制”资助
摘    要:利用能量色散型X射线荧光光谱仪(XRF)测试贵金属首饰含量,测试结果受选择的测试条件、样品成分、样品形状特征等因素的影响。通过日本岛津公司的EDX-LE型能量色散型X射线荧光光谱仪测试银首饰中的银含量,分析得出样品测试面是否平整、准直器的大小是影响实验测试值准确性的最主要因素,测试时需要选择较大的准直器、选择平整的测试面且多次测量以得出测试结论。

关 键 词:X射线荧光光谱仪  银首饰  定量分析  影响因素

The Condition Setting by Using EDX-LE XRF to Test Silver Content in Ornament
Gao Kong,Wu Wanyi,Chen Shidan. The Condition Setting by Using EDX-LE XRF to Test Silver Content in Ornament[J]. Metrology and Measurement Technique, 2015, 42(1): 1-3
Authors:Gao Kong  Wu Wanyi  Chen Shidan
Affiliation:Gao Kong;Wu Wanyi;Chen Shidan;
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号