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α-Ti晶粒尺寸的EBSD技术测定方法及分析
引用本文:鲁法云,杨平,李萧,孟利.α-Ti晶粒尺寸的EBSD技术测定方法及分析[J].电子显微学报,2011,30(4):388-393.
作者姓名:鲁法云  杨平  李萧  孟利
作者单位:1. 北京科技大学 材料科学与工程学院,北京,100083
2. 北京科技大学 冶金工程研究院,北京,100083
基金项目:国家自然科学基金资助项目(50771019); 高等学校博士学科点专项科研基金资助项目(20090006110013)
摘    要:用EBSD技术中的自动晶粒尺寸计算方法测定了六方结构α-Ti的晶粒尺寸.结果表明,对EBSD技术获取的数据,用面积法测量时能准确测出晶粒的平均尺寸.但EBSD方法测量晶粒尺寸时会受到标定率及误标的明显影响.影响最大的是伪对称性,即当因大量误标造成小“晶粒”出现时,平均晶粒尺寸明显降低.通过调整测试参数和后续处理可以去除...

关 键 词:EBSD技术  晶粒尺寸测定  α-Ti
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