首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

基于正交试验的微波多芯片组件金丝键合技术
作者姓名:张晓宇  王伟  姬峰  王子伊  郭中原
作者单位:北京遥感设备研究所
摘    要:本文对金丝键合技术进行研究,从键合样品处理方法与键合工艺两方面分析了影响金丝键合质量的关键工艺参数,对金丝键合工艺进行优化,优化后的金丝键合可靠性大幅提升。微波多芯片组件是雷达等军用电子装备的核心部件,金丝键合工艺是实现微波多芯片组件电气互联的核心技术环节。微波组件中包含金丝数量庞大,金丝键合技术对于微波组件性能与可靠性有至关重要影响。

关 键 词:微波多芯片组件  金丝键合  正交试验  参数优化
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号