| 异构ATE测试图形程序的移植研究 |
| |
| 引用本文： | 孙育宁 时万春. 异构ATE测试图形程序的移植研究[J]. 计算机学报, 1995, 18(2): 88-96 |
| |
| 作者姓名： | 孙育宁 时万春 |
| |
| 作者单位： | 中国科学院计算技术研究所 |
| |
| 基金项目： | 国家“八五”重点科技攻关项目 |
| |
| 摘 要： | 异构自动测试仪（ＡＴＥ）之间的测试图形程序移植是一项难度很高的工作,通常采用的方法是对测试图形向量进行逐条直译。这样,如果在异构ＡＴＥ测试图形语言之间找不到对应的语言成分,将导致实际有可能成功的移植失败,并且,即使这样移植成功,被移植的测试图形程序能够保证词法和语法的正确性,但在大多数情况下,这些程序仍不能在目标ＡＴＥ上正确运行。本章在详细分析了传统移植方法后,提出一种基于异构ＡＴＥ功能对等的移植
|
| 关 键 词： | 集成电路 自动测试仪 测试图形程序 软件移植 |
TEST PROGRAM MIGRATION BETWEEN HETEROGENEOUS ATE'S |
| |
| Sun Yuning and Shi Wanchun. TEST PROGRAM MIGRATION BETWEEN HETEROGENEOUS ATE'S[J]. Chinese Journal of Computers, 1995, 18(2): 88-96 |
| |
| Authors: | Sun Yuning and Shi Wanchun |
| |
| Abstract: | In the paper, a method which describes IC test program migration is presented. The method uses "function equivalence theory" to evaluate Automation Test Equipment (ATE). The key contribution of the method is to interpret the test pattern correctly rather than translate the test pattern syntacticaly. |
| |
| Keywords: | CAT IC test test program migration IC test software environment. |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ |
|
