12GHz 1.5dB亚微米栅GsAs MESFET |
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引用本文: | 陈克金
,陈世鸯
,俞土法.12GHz 1.5dB亚微米栅GsAs MESFET[J].固体电子学研究与进展,1984(1). |
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作者姓名: | 陈克金 陈世鸯 俞土法 |
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摘 要: | <正> 南京固体器件研究所成功地研制了深槽亚微米栅GaAs MESFET。器件栅工0.4~0.6μm、栅宽150μm、槽深0.3~0.4μm。以1.8×1.8mm标准陶瓷金属微带管壳封装,进一步改善了射频特性。在12GHz下测量,器件噪声系数的最佳值为1.4dB,相关增益7.5dB。大部分器件的噪声系数在1.5~3.5dB范围内。器件在2~12GHz频率范围内的s参数也较好。与日本三菱公司的2SK267和NEC的NE38883 MESFET 进行了同等条件下测试对比,说明测试结果可靠。 用于制作器件的GaAs材料的质量较好。GaAs半绝缘衬底有较高的电阻率;缓冲层纯度较高,提高了与有源层交界面附近的迁移率;有源层为N~+-N层,有利于减小源漏接触电阻。这些为器件获得高增益、低噪声打下了良好的基础。
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A12GHz l.5dB Submicron Gate GaAs MESFET |
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Abstract: | |
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Keywords: | |
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