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杂志ISSN号
残差控制图应用中的自相关过程模型研究
作者姓名:
俞少君
李亚平
肖艳
摘 要:
随着自动化技术的发展,数据自相关现象在现代制造业中普遍存在.基于自相关模型的残差控制图是解决自相关数据统计监控问题的一类较好方法.现有研究均假设数据呈一阶自相关,仅研究一阶自回归模型与残差控制图结合的过程监控问题.但是,实际生产中观测数据可能服从多阶自相关.基于此,针对数据多阶自相关的过程监控问题,运用蒙特卡洛仿真法,...
关 键 词:
自相关
自回归模型
残差控制图
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