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| 扩展X射线吸收精细结构分析方法 | |
| 作者姓名： | 李宁先 |
| 作者单位： | 武汉大学化学系 |
| 摘 要： | 早在本世纪30年代,人们在研究各种物质对 X 射线的吸附时就发现,在各种元素的 X 射线吸收光谱中,在吸收限高能一侧30～1000eV范围内,吸收曲线出现波动状态精细结构。这种精细光谱结构称为“扩展 X 射线吸收精细结构”(Extended X-Ray Absorption FineStructure,EXAFS)。50～60年代的研究工作已经证明,EXAFS的形状与吸光原子的化学环境有关。70年代初,Sayers 等将 Ge 的 EXAFS 数据经付里 |
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