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用于CMOS图像传感器内置流水线ADC的采样/保持电路
引用本文:李兆文,魏廷存,郑然. 用于CMOS图像传感器内置流水线ADC的采样/保持电路[J]. 微电子学, 2011, 41(3)
作者姓名:李兆文  魏廷存  郑然
作者单位:西北工业大学航空微电子中心,西安,710072
基金项目:2009年度国家自然科学基金资助项目(60972157)
摘    要:设计了用于CMOS图像传感器内置流水线ADC的采样/保持电路,该电路具有10位采样精度和50 MHz采样速率,采用开关电容电荷重分布式结构,加入图像传感器的黑光校准功能。放大器采用全差分套筒式共源共栅增益增强型结构,保证了所需的增益和带宽。电路采用0.18μmCMOS工艺实现。HSPICE仿真结果表明,电路可在5 ns内达到0.05%的精度;对于24.0218 MHz、±0.5 V摆幅的正弦输入信号,SNDR和SFDR分别达到62.47 dB和63.73 dB,满足系统要求。

关 键 词:CMOS  图像传感器  流水线A/D转换器  采样保持电路  黑光校准  

A Sample/Hold Circuit for Built-in Pipelined ADC in CMOS Image Sensor
LI Zhaowen,WEI Tingcun,ZHENG Ran. A Sample/Hold Circuit for Built-in Pipelined ADC in CMOS Image Sensor[J]. Microelectronics, 2011, 41(3)
Authors:LI Zhaowen  WEI Tingcun  ZHENG Ran
Affiliation:LI Zhaowen,WEI Tingcun,ZHENG Ran(Aviation Microelectronics Center,Northwestern Polytechnical University,Xi'an 710072,P.R.China)
Abstract:
Keywords:CMOS  Image sensor  Pipelined ADC  Sample/hold circuit  Black level calibration  
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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