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一等环规测量仪的研制
引用本文:熊昌友,何学军,孙玉玖,任冬梅,何英,李华丰,张家远.一等环规测量仪的研制[J].计测技术,2003(2):14-15,27.
作者姓名:熊昌友  何学军  孙玉玖  任冬梅  何英  李华丰  张家远
作者单位:中国航空工业第一集团公司北京长城计量测试技术研究所,中国航空工业第一集团公司北京长城计量测试技术研究所,中国航空工业第一集团公司北京长城计量测试技术研究所,中国航空工业第一集团公司北京长城计量测试技术研究所,中国航空工业第一集团公司北京长城计量测试技术研究所,中国航空工业第一集团公司北京长城计量测试技术研究所,中国航空工业第一集团公司北京长城计量测试技术研究所 北京 100095,北京 100095,北京 100095,北京 100095,北京 100095,北京 100095,北京 100095
摘    要:一等环规测量仪是将激光干涉仪测长技术、静态光电显微镜瞄准技术和精密微位移定位技术作为主体测量技术,以上三项技术的有机结合使该仪器的测量不确定度达到了国际法制计量组织(OIML)规定的一等环规的测量要求。

关 键 词:一等环规测量仪  测量不确定度  光电显微镜瞄准技术  激光干涉仪测长技术  精密微位移定位技术
修稿时间:2002/12/23 0:00:00

Development of Grade 1 Ring Gauge Measuring Instrument
XIONG Chang-you,HE Xue-jun,SUN Yu-jiu,REN Dong-mei HE Ying,LI Hua-feng,ZHANG Jia-yuan.Development of Grade 1 Ring Gauge Measuring Instrument[J].Metrology & Measurement Technology,2003(2):14-15,27.
Authors:XIONG Chang-you  HE Xue-jun  SUN Yu-jiu  REN Dong-mei HE Ying  LI Hua-feng  ZHANG Jia-yuan
Abstract:The grade 1 ring gauge measuring instrument is such a measuring technology taking the laser interferometer, static state photoelectric microscope and precision micro-displacement measuring device as the main technologies. The organic combination of the above three technologies makes the uncertainty of this instrument meet the measuring requirements of the grade 1 ring gauge regulated by the OIML.
Keywords:grade 1 ring gauge: laser interferometer  static state  photoelectric microscope  precision micro-displacement    
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