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基于012μm GaAs PHEMT 工艺的压控振荡器IC 设计
引用本文:孙 玲,朱 恩,孟凡生,吴春红,费瑞霞.基于012μm GaAs PHEMT 工艺的压控振荡器IC 设计[J].电子器件,2003,26(4).
作者姓名:孙 玲  朱 恩  孟凡生  吴春红  费瑞霞
摘    要:摘要:给出了一个采用012μm GaAs PHEMT工艺设计的全集成差分负阻式LC 压控振荡器电路,芯片面积为0152 × 017 mm2 。采用313 V 正电源供电,测得输出功率约- 11122 dBm ,频率调节范围61058 GHz~91347 GHz ;在自由振荡 频率712 GHz 处,测得的单边带相位噪声约为- 82 dBc/ Hz @100 kHz.

关 键 词:关键词:压控振荡器  锁相环  GaAs  PHEMT工艺
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