| ~(60)Coγ射线低能散射对CMOS器件电离辐射效应的影响 |
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| 引用本文： | 吴国荣,周辉,郭红霞,林东升,龚建成,关颖,韩福斌.~(60)Coγ射线低能散射对CMOS器件电离辐射效应的影响[J].微电子学,2001(3). |
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| 作者姓名： | 吴国荣 周辉 郭红霞 林东升 龚建成 关颖 韩福斌 |
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| 作者单位： | 西北核技术研究所!陕西西安710024 |
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| 摘 要： | 在60 Coγ射线辐射场中采用 Pb/ Al屏蔽和非屏蔽的方法 ,研究比较了低能散射对 CMOS器件电离辐射效应的影响。在理论计算基础上 ,设计了 Pb/ Al屏蔽盒。实验结果表明 ,低能散射占总电离辐射吸收剂量的 2 0 %左右 ,采用 Pb/ Al屏蔽盒可以消除低能散射的影响 ,能更可靠地进行微电子器件抗辐射加固水平的精确评估与对比 ;低能散射对 Kovar封装的器件产生剂量增强效应 ,剂量增强因子小于 2 .0
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| 关 键 词： | 低能散射 电离辐射效应 辐射加固 CMOS器件 剂量增强效应 |
Influence of (60)~Co Source Lower Energy Diffusing on Ionizing Radiation Effects of CMOS Devices |
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| WTBZWU Guo rong,ZHOU Hui,GUO Hong xia,LIN Dong sheng,GONG Jian cheng,GUAN Ying,HAN Fu bin WTBX.Influence of (60)~Co Source Lower Energy Diffusing on Ionizing Radiation Effects of CMOS Devices[J].Microelectronics,2001(3). |
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| Authors: | WTBZ]WU Guo rong ZHOU Hui GUO Hong xia LIN Dong sheng GONG Jian cheng GUAN Ying HAN Fu bin [WTBX] |
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| Affiliation: | WT5BZ]WU Guo rong,ZHOU Hui,GUO Hong xia,LIN Dong sheng,GONG Jian cheng,GUAN Ying,HAN Fu bin [WT6BX] |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Lower energy diffusing Ionizing radiation effect Radiation hardening CMOS device Dose enhancement effect |
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