| 基于线结构光的超精密齿轮齿距偏差测量分析 |
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| 引用本文： | 余石鹏,赵运才,王得峰,任继华. 基于线结构光的超精密齿轮齿距偏差测量分析[J]. 现代制造工程, 2021, 0(7): 103-108. DOI: 10.16731/j.cnki.1671-3133.2021.07.016 |
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| 作者姓名： | 余石鹏 赵运才 王得峰 任继华 |
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| 作者单位： | 江西理工大学机电工程学院,赣州341000;东莞市星火齿轮有限公司,东莞523723 |
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| 摘 要： | 超精密齿轮精度要求高,使用接触式测量容易造成齿面损伤,影响精度,且只有少部分的接触式测量设备能达到微米级别,测量效率低,所以因为效率、精度的原因无法满足超精密齿轮的测量需求;故从诸多测量方法中选取了线结构光测量系统,对基于线结构光的超精密齿轮齿距偏差测量进行了分析研究.根据IS01328-1:2013《圆柱齿轮精度标准》中齿距偏差项目的 定义,通过线结构光测量系统对模数为3.0 mm,齿数为30的2级精度渐开线圆柱直齿轮样板进行了齿距偏差测量,得到了左、右齿面的单个齿距偏差分别为1.71 μm和1.73 μm,以及左、右齿面的齿距累积总偏差分别为5.43 μm和5.70 μm,并分别与IS01328-1:2013和GB/T 10095.1-2008中单个齿距偏差和齿距累积总偏差的许用值进行对比,证明了该线结构光测量系统能够实现超精密齿轮的非接触式测量.
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| 关 键 词： | 齿距偏差 非接触式测量 线结构光 超精密齿轮 |
Measurement and analysis of pitch deviation of ultra-precision gears based on line structured light |
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| YU Shipeng,ZHAO Yuncai,WANG Defeng,REN Jihua. Measurement and analysis of pitch deviation of ultra-precision gears based on line structured light[J]. Modern Manufacturing Engineering, 2021, 0(7): 103-108. DOI: 10.16731/j.cnki.1671-3133.2021.07.016 |
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| Authors: | YU Shipeng ZHAO Yuncai WANG Defeng REN Jihua |
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