| 基于遗传算法的复杂电子装备测试性优化分配 |
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| 引用本文： | 王宝龙,黄考利,苏林,魏忠林.基于遗传算法的复杂电子装备测试性优化分配[J].计算机测量与控制,2007,15(7):925-928. |
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| 作者姓名： | 王宝龙 黄考利 苏林 魏忠林 |
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| 作者单位： | 军械工程学院,导弹工程系,河北,石家庄,050003 |
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| 摘 要： | 遗传算法作为一种通用方法,已经在很多领域得到应用,但在测试性工程中应用相对较少;鉴于测试性分配的原则和一般模型,文章利用"并行工程"的思想,系统地给出了采用遗传算法进行复杂电子装备测试性优化分配的全过程;基于遗传算法的测试性优化分配方法可以把测试性和可靠性、维修性等紧密衔接起来,解决了电子装备"并行设计"中测试性分配存在的问题,弥补了传统方法的缺陷;通过将该算法与传统的测试性分配方法进行比较,充分证明了遗传算法在测试性分配工作中具有很高的实用价值;采用该方法可以大大提高测试性分配的成功率、节约装备的诊断和测试费用.
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| 关 键 词： | 遗传算法 并行工程 测试性分配 基于遗传算法 复杂电子装备 测试性 优化分配 Genetic Algorithms Based Electronic Complicated Allocation Optimizing 测试费用 诊断 节约 成功率 价值 工作 比较 缺陷 分配方法 问题 |
| 文章编号： | 1671-4598（2007）07-0925-04 |
| 收稿时间： | 2006-10-11 |
| 修稿时间： | 2006-10-112006-11-09 |
Testability Optimizing Allocation of Complicated Electronic Equipments Based on Genetic Algorithms |
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| Wang Baolong,Huang Kaoli,Su Lin,Wei Zhonglin.Testability Optimizing Allocation of Complicated Electronic Equipments Based on Genetic Algorithms[J].Computer Measurement & Control,2007,15(7):925-928. |
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| Authors: | Wang Baolong Huang Kaoli Su Lin Wei Zhonglin |
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| Affiliation: | Department of Missile Engineering, Ordnance Engineering College, Shijiazhuang 050003, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | genetic algorithms concurrent engineering testability allocation |
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