| 一种硅微波功率三极管的失效分析 |
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| 引用本文： | 李兴鸿,赵俊萍,赵春荣,赖世波.一种硅微波功率三极管的失效分析[J].电子产品可靠性与环境试验,2013,31(1):39-43. |
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| 作者姓名： | 李兴鸿 赵俊萍 赵春荣 赖世波 |
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| 作者单位： | 北京微电子技术研究所,北京,100076 |
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| 摘 要： | 描述了硅微波功率三极管的失效模式,给出了器件输出功率与器件耗损功率的关系,得出了微波脉冲电流与有效值的关系,证明了器件在规定的参数范围内能可靠工作,推论了器件失效发生时的状态。指出器件的失效是热电正反馈熔融烧毁所致,是使用问题而不是器件的本质失效;其分析过程对其它器件的失效分析有指导作用。
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| 关 键 词： | 硅微波功率三极管 耗散功率 熔融蒸发 |
Failure Analysis on a Silicon Microwave Power Transistor |
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| LI Xing-hong
,
ZHAO Jun-ping
,
ZHAO Chun-rong
,
LAI Shi-bo.Failure Analysis on a Silicon Microwave Power Transistor[J].Electronic Product Reliability and Environmental Testing,2013,31(1):39-43. |
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| Authors: | LI Xing-hong ZHAO Jun-ping ZHAO Chun-rong LAI Shi-bo |
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| Affiliation: | (Beijing Micro-electronic Technology Research Institute,Beijing 100076,China) |
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| Abstract: | |
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