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电子元器件可焊性测试仪校准方法研究
引用本文:马清桃,张吉,杨城,潘凌宇. 电子元器件可焊性测试仪校准方法研究[J]. 计算机与数字工程, 2015, 0(1): 7-9,79
作者姓名:马清桃  张吉  杨城  潘凌宇
作者单位:湖北航天技术研究院计量测试技术研究所 孝感 432000
摘    要:可焊性测试仪是电子元器件在生产过程中、筛选复验和装机前进行可焊性测试的仪器,其技术指标包括温度、润湿力、浸渍深度、速率和时间论文依据相关国家检定规范,通过实践研究,实现了可焊性测试仪这些技术指标的校准。

关 键 词:电子元器件  可焊性测试仪  校准方法

Calibration Method Research on Electronic Component Solderability Tester
MA Qingtao,ZHANG Ji,YANG Cheng,PAN Lingyu. Calibration Method Research on Electronic Component Solderability Tester[J]. Computer and Digital Engineering, 2015, 0(1): 7-9,79
Authors:MA Qingtao  ZHANG Ji  YANG Cheng  PAN Lingyu
Affiliation:MA Qingtao;ZHANG Ji;YANG Cheng;PAN Lingyu;The Metrology and Measurement Institute of Hubei Space Academy;
Abstract:
Keywords:electronic component  solderability tester  calibration method
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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