| 一种 FLEX 系列 FPGA 测试建模方案磁 |
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| 引用本文： | 张俊,袁云华.一种 FLEX 系列 FPGA 测试建模方案磁[J].计算机与数字工程,2015(1). |
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| 作者姓名： | 张俊 袁云华 |
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| 作者单位： | 湖北航天技术研究院计量测试技术研究所 孝感 432000 |
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| 摘 要： | 目前常用的 FPGA 器件测试方法为基于实际应用的编程测试方法，其关键在于选择什么样的测试模型。论文在研究了 FPGA 器件的结构和工作原理的基础上，提出一种可行性强、覆盖率高的测试模型建立方案，对逻辑单元、嵌入式阵列和 I／O 双向管脚的覆盖率可达100％，且功能简单、结构清晰，易于模拟测试向量和故障定位。
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| 关 键 词： | FPGA 测试 查找表 逻辑单元 测试模型 |
A FLEX Series FPGA Test Modeling Scheme |
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| ZHANG Jun,YUAN Yunhua.A FLEX Series FPGA Test Modeling Scheme[J].Computer and Digital Engineering,2015(1). |
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| Authors: | ZHANG Jun YUAN Yunhua |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | FPGA test look up table logical unit test model |
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