| 在片矢量网络分析仪测试系统量值比对方案的探讨 |
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| 引用本文： | 孙晓颖,孙静,栾鹏,吴爱华,韩利华,梁法国.在片矢量网络分析仪测试系统量值比对方案的探讨[J].计算机与数字工程,2015(1):47-50,58. |
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| 作者姓名： | 孙晓颖 孙静 栾鹏 吴爱华 韩利华 梁法国 |
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| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第十三研究所 石家庄 050051 |
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| 摘 要： | 目前国内尚未建立在片矢量网络分析仪测试系统的有效溯源途径,随着微电子行业的高速发展,在片模式下测量的散射参数的计量问题急需解决。为达到量值一致、可靠的目的,论文针对在片矢量网络分析仪测试系统提出了量值比对方案,提出采用失配衰减单片作为传递标准。对比对结果的数据统计方法进行了探讨,同时采用两种统计方法进行离群值剔除,采用各实验室测量值的算术平均值作为参考值,推导出这种情况下比对结果的归一化偏差En值。
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| 关 键 词： | 在片矢量网络分析仪 量值比对 参考值 归一化偏差En |
The Scheme of On-wafer Vector Network Analyzer Test System Comparison of Values |
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| SUN Xiaoying,SUN Jing,LUAN Peng,WU Aihua,HAN Lihua,LIANG Faguo.The Scheme of On-wafer Vector Network Analyzer Test System Comparison of Values[J].Computer and Digital Engineering,2015(1):47-50,58. |
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| Authors: | SUN Xiaoying SUN Jing LUAN Peng WU Aihua HAN Lihua LIANG Faguo |
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| Affiliation: | SUN Xiaoying;SUN Jing;LUAN Peng;WU Aihua;HAN Lihua;LIANG Faguo;The 13th Research Institute of China Electronics Technology Group Corporation; |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | on-wafer vector network analyzer comparison of values reference value normalized bias En |
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