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| FPGA 可编程逻辑单元测试方法研究磁 | |
| 引用本文： | 邱云峰,秦鲁东. FPGA 可编程逻辑单元测试方法研究磁[J]. 计算机与数字工程, 2015, 0(1) |
| 作者姓名： | 邱云峰 秦鲁东 |
| 作者单位： | 1. 贵州航天计量测试技术研究所 贵阳 550009 2. 贵州大学 贵阳 550025 |
| 摘 要： | FPGA 是广泛应用于集成电路设计，片上系统等多领域，随着 FPGA 的广泛应用，对其可靠性的要求也越来越高，由于其结构和功能复杂，其测试难度和成本也随之增加。文章简要介绍了 SRAM 型 FPGA 的逻辑单元（LE）的结构，提出了一种基于扫描链的逻辑资源遍历测试方法。以 Altera 公司 FPGA 为例，简述了在超大规模集成电路测试系统CAT T‐400上实现 FPGA 在线配置和功能测试方法。 |
| 关 键 词： | FPGA 可编程逻辑单元 扫描链 重配置 自动化测试 |
Research on Testing Technology of Logic Elements in FPGA |
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| QIU Yunfeng,QIN Ludong. Research on Testing Technology of Logic Elements in FPGA[J]. Computer and Digital Engineering, 2015, 0(1) | |
| Authors: | QIU Yunfeng QIN Ludong |
| Abstract: | |
| Keywords: | field programmable gate array(FPGA) logic elements(LE) scan chain partial reconfiguration automat-ic test system(ATE) |
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