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电子元件的特征建模与检查算法研究
引用本文:贺珍真,张宪民,邝泳聪.电子元件的特征建模与检查算法研究[J].机电工程技术,2008,37(6).
作者姓名:贺珍真  张宪民  邝泳聪
作者单位:华南理工大学机械工程学院,广东广州,510640
基金项目:粤港关键领域重点突破项目 , 广东省、教育部产学研结合资助项目
摘    要:本文提出了一种电子元件建模与检查的算法.首先通过3CCD??包相机,红、绿、蓝三色LED结构光源获取PCB图像,图像经预处理凸显出元件的颜色特征;然后通过定位算法来实现元件的精确定位.在此基础上.提取元件的窗口位置,区域形态和逻辑等特征来实现对元件质量的检测;最后通过实验证明本算法的有效性和稳定性.

关 键 词:AOI  图像预处理  元件定位  特征建模与检查  电子元件  特征建模  检查  稳定性  有效性  验证  检测  质量  逻辑  区域形态  位置  窗口  提取  精确定位  定位算法  颜色特征  预处理  图像  光源  结构
本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录!
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