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| 怎样避免微电子封装生产车间的静电放电（ESD）现象 | |
| 引用本文： | 杨建生.怎样避免微电子封装生产车间的静电放电（ESD）现象[J].集成电路应用,2003(11):73-76. |
| 作者姓名： | 杨建生 |
| 作者单位： | 天水华天微电子有限公司技术部 |
| 摘 要： | 文章介绍了微电子封装产品生产车间静电放电（ESD）现象的产生途径和对封装电子元器件的危害，并简要叙述了为避免生产车间的静电放电（ESD）现象应采取的相关防护措施。 |
| 关 键 词： | 微电子封装 静电放电 防护措施 集成电路 危害性 |
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