| GEM探测器的计数性能研究 |
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| 引用本文： | 苏青峰,夏义本,王林军,汪琳,刘健敏,史伟民. GEM探测器的计数性能研究[J]. 有色金属材料与工程, 2005, 26(3): 110-113 |
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| 作者姓名： | 苏青峰 夏义本 王林军 汪琳 刘健敏 史伟民 |
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| 作者单位： | 上海大学材料科学与工程学院电子信息材料系,上海,200072 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金（60277024）;上海市纳米专项（0452nm051）;上海应用材料研究与发展基金（0307） |
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| 摘 要： | 采用真空热蒸发法在50μm的聚酰亚胺薄膜上蒸镀5μm~8μm的铜层,并用激光掩模打孔法在其上制备了孔径80μm、孔间距285μm的GEM复合薄膜,成功组装了20mm×20mm的GEM探测器。对GEM探测器在55Fe X射线(5.9keV)辐照下进行了脉冲幅度分布谱测试,讨论了漂移区电场、ΔGEM电场、收集区电场对探测器记数的影响。结果表明,随着漂移区电场的增加,计数先增加后减小,在13kV/cm时达到最大值9.7×104。随着ΔGEM电场的增加,记数呈指数增长,最大可达1.2×104。随着收集区电场的增加,计数增大并趋向饱和,最大可达1.3×105。
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| 关 键 词： | 电子倍增器 X射线 工作电场 计数 |
| 文章编号： | 1005-2046(2005)03-0110-04 |
| 收稿时间： | 2004-12-22 |
| 修稿时间： | 2004-12-22 |
Counting Properties of Gas Electrons Multiplier |
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| SU Qing-feng,XIA Yi-ben,WANG Lin-jun,WANG Lin,LIU Jian-min,SHI Wei-min. Counting Properties of Gas Electrons Multiplier[J]. Nonferrous Metal Materials and Engineering, 2005, 26(3): 110-113 |
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| Authors: | SU Qing-feng XIA Yi-ben WANG Lin-jun WANG Lin LIU Jian-min SHI Wei-min |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Gas Electrons Multiplier X-ray applied electric field counts |
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