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表面形貌焦点跟踪测量方法的研究
引用本文:谢峰,谢铁邦,张新宝.表面形貌焦点跟踪测量方法的研究[J].计量学报,2000,21(3):173-177.
作者姓名:谢峰  谢铁邦  张新宝
作者单位:华中理工大学,武汉,430074
基金项目:国家自然科学基金! (5 95 75 0 83)
摘    要:介绍了一种新型的基于聚焦探测法的自然焦点跟踪传感器,该传感器可实现表形貌的快速、非接触测量,其垂直测量范围为500μm,最高分辨率为3nm。中详细叙述了该传感器的工作原理、关键技术的实现及其应用。

关 键 词:表面形貌  非接触测量  聚焦探测  焦点跟踪测量
修稿时间:1999-08-09

Study on the Focus Tracing Method for Measuring Surface Topography
XIE Feng,XIE Tie-bang,ZHANG Xin-bao.Study on the Focus Tracing Method for Measuring Surface Topography[J].Acta Metrologica Sinica,2000,21(3):173-177.
Authors:XIE Feng  XIE Tie-bang  ZHANG Xin-bao
Abstract:
Keywords:Surface topography  Non  contact measurement  Focus detection  Servo control  
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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