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用计算机测试系统及辅助方法测试高压大电流功率驱动集成电路
引用本文:王广武.用计算机测试系统及辅助方法测试高压大电流功率驱动集成电路[J].电子质量,2007(4):11-13,33.
作者姓名:王广武
作者单位:长沙韶光微电子总公司,韶光半导体有限公司,长沙,410129
摘    要:本文介绍了5406、5407、TC4423、TC4424、TC4425等驱动集成电路的电性能参数,说明了对这类能输出高电压或大电流集成电路的测试原理,给出了以小型微型计算机测试系统为主,加以其它辅助方法进行这类电路包括高电压和大电流的全参数测试的方案.

关 键 词:高电压或大电流驱动集成电路  计算机测试系统  辅助测试方法
文章编号:1003-0107(2007)04-0011-04

Use Computer Testing System and Assistant Methods Testing High Voltage or Heavy Current Drive IC
Wang Guang-wu.Use Computer Testing System and Assistant Methods Testing High Voltage or Heavy Current Drive IC[J].Electronics Quality,2007(4):11-13,33.
Authors:Wang Guang-wu
Affiliation:Changsha Shaoguang Semiconductor Co.,Ltd., Changsha 410129,China
Abstract:This article is aim at the electronic characteristic of drive IC 5406/5407/3-04423/ TC4424/TC4425 and so on. It shows the testing theory for this kind of high voltage or heavy current drive IC. It points out a full parameter testing scheme of this kind of IC, that is give priority to the mini-computer testing system, adding other assistant methods.
Keywords:High voltage or heavy current drive IC  Computer testing system  Assistant testing methods
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