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| Electroglas开发出自动缺陷分类软件 | |
| 摘 要： | 处理性管理工具厂商 Electroglas公司推出了一套自动缺陷分类软件 Defect ID。它用于改良晶圆制程检测、组装和封装处理中的生产性能和产能。Defect ID可结合该公司的Quick Silver自动晶圆检测系统 ,扩充其现有的缺陷分类工具范畴 ,包括晶圆表面缺陷随机识别系统。Defect ID采用脱机训练和分析工具可以生产一套缺陷识别库并刷新分类结果。用户采用Defect ID的管理系统 ,可变更或比较分类范畴 ,增加或减少缺陷类别Electroglas开发出自动缺陷分类软件 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |