区熔工艺和中照条件对NTD FZ(H)-Si单晶退火行为的影响 |
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作者姓名: | 陈燕生 李秋生 王丛华 陈炳贤 高秀清 |
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作者单位: | 北京科技大学(陈燕生,李秋生,王丛华),中国原子能科学研究院(陈炳贤),中国原子能科学研究院(高秀清) |
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摘 要: | 采用后热区熔工艺的NTD FZ(H)-Si单晶,其退火曲线与常规区熔(氢)工艺控制的NTD FZ(H)-Si单晶退火曲线一样,有氢施主,而采用后冷区熔工艺的NTD FZ(H)-Si单晶其退火曲线没有氢施主,但有辐照。辐照施主峰大小与快中子积分通量有关,通量愈大热快比愈小,辐照施主峰愈大。
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