| 基于功能结构的数字系统可测试性设计 |
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| 引用本文： | 陈 超,吴 金,常昌远,魏同立. 基于功能结构的数字系统可测试性设计[J]. 电子器件, 2002, 25(2): 170-173 |
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| 作者姓名： | 陈 超 吴 金 常昌远 魏同立 |
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| 作者单位： | 东南大学,微电子中心,南京,210096 |
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| 摘 要： | 可测性设计DFT技术已成为IC设计中的一个重要技术，对于不同复杂程序及规模的IC，应选择不同策略的测试方案以达到设计成本和周期的目标，基于功能结构的可测试性设计是其中一种可选择的测试方案。
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| 关 键 词： | 可测试性设计 微处理器 |
| 文章编号： | 1005-9490(2002)02-0170-04 |
| 修稿时间： | 2001-12-24 |
Design for Test of Digital System Based on Function and Structure |
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| CHEN Chao,WU Jin,CHANG Cangyuan,WEI Tongli. Design for Test of Digital System Based on Function and Structure[J]. Journal of Electron Devices, 2002, 25(2): 170-173 |
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| Authors: | CHEN Chao WU Jin CHANG Cangyuan WEI Tongli |
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| Affiliation: | Southeast University |
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| Abstract: | Design for testability has become one of the important parts in IC design. We should adopt different test mode in different IC design to achieve the goals in the cest and the test application time trade off for the system chip. DFT technology based on structure and function is one of the adoptable plan. |
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| Keywords: | Design For Testability (DFT) Microprocessor |
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