| X射线荧光光谱仪测定磷矿石中P2O5基底滤纸制样条件研究 |
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| 引用本文： | 彭桦,蒋正国,叶罕章,李虹,赵红梅.X射线荧光光谱仪测定磷矿石中P2O5基底滤纸制样条件研究[J].磷肥与复肥,2011,26(1):61-61,78. |
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| 作者姓名： | 彭桦 蒋正国 叶罕章 李虹 赵红梅 |
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| 作者单位： | 云天化云南磷化集团研发中心,云南,昆明,650113 |
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| 摘 要： | 磷矿石样品分析中采用薄膜法、滤纸片法等1-3],其优点是,制样手续简便,试样用量少,数据处理时所用计算公式简单,吸收-增强效应可不考虑。在薄膜法制样中,选取最佳试样厚度和控制液斑面积,可进一步节省试样,获得更满意的分析结果。本文研究用滤纸片制样——XRF法测定磷矿石中P2O5时,滤纸片吸附磷矿石的总量(即厚度)和磷矿石液的扩散面积对分析结果的影响。
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| 关 键 词： | 磷矿石 滤纸片法 荧光光谱仪 定性滤纸 分析结果 制样 数据处理 薄膜法 基底 测定 |
Study on thin sampling preparation on filter paper for determination of P2O5 in phosphate rock with X-ray fluorescence spectrometer |
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| PENG Hu,JIANG Zheng-guo,YE Han-zhang,LI Hong,ZHAO Hong-mei.Study on thin sampling preparation on filter paper for determination of P2O5 in phosphate rock with X-ray fluorescence spectrometer[J].Phosphate & Compound Fertilizer,2011,26(1):61-61,78. |
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| Authors: | PENG Hu JIANG Zheng-guo YE Han-zhang LI Hong ZHAO Hong-mei |
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