| 多元统计分析方法在各向异性材料电子能量损失谱中的应用 |
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| 引用本文： | 孙岳魁,袁俊. 多元统计分析方法在各向异性材料电子能量损失谱中的应用[J]. 电子显微学报, 2005, 24(4): 380-380 |
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| 作者姓名： | 孙岳魁 袁俊 |
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| 作者单位： | 清华大学材料科学与工程系,北京,100084 |
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| 摘 要： | 电子结构可以通过电子能量损失谱（EEIS）的近边精细结构（Near Edge Structure）来测量。在各向异性材料中，不同的选择则决定了具有不同对称性的电子跃迁过程在改变谱接收条件时可能处于不同程度的激发状态，从而造成精细结构上的差异。如何从这些差异分析中得到与其相关的电子结构的对称性？这个问题的解决对于各向异性材料的电子结构及其相关性能的研究是非常重要的。本文提出通过多元统计分析方法（Multivariate Statistical Analysis）处理系列实验谱线，从而确定电子结构的对称性信息。
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| 关 键 词： | 多元统计分析方法 电子能量损失谱 各向异性材料 电子结构 应用 精细结构 对称性 Edge 接收条件 |
Application of multivariate statistical analysis (MSA) in anisotropic EELS |
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| SUN Yue-kui,YUAN Jun. Application of multivariate statistical analysis (MSA) in anisotropic EELS[J]. Journal of Chinese Electron Microscopy Society, 2005, 24(4): 380-380 |
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| Authors: | SUN Yue-kui YUAN Jun |
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