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| 测试技术发展趋势 | |
| 引用本文： | 崔德勋.测试技术发展趋势[J].电子产品世界,2001(3):44-46. |
| 作者姓名： | 崔德勋 |
| 摘 要： | IC测试、通信测试、网络测试和 虚拟仪器的发展已出现一些新的势态。降低测试成本成为发展IC测试的首要目标对体积更小、功能更强的芯片的需求正推动IC产业的发展，同时也推动着IC设计和测试的发展。对于系统芯片（SOC）的测试，其成本已几乎占芯片成本的一半。根据英特尔公司副总裁提出的测试摩尔定律，未来几年，每一晶体管的硅投资成本将低于其测试成本。 因此未来IC测试设备制造商面临的最大挑战是如何降低测试成本。过去的集成电路主要分为模拟电路、混合信号电路和数字电路。１９９８年，称之为MACH-D的（即存储器、模拟、通… |
| 关 键 词： | 测试技术 集成电路 异步测试 |
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