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1.3μm InGaAsP/InP全金属化耦合封装侧面发光二极管
引用本文:朱志文,李金良.1.3μm InGaAsP/InP全金属化耦合封装侧面发光二极管[J].半导体光电,1991,12(2):128-132.
作者姓名:朱志文  李金良
作者单位:重庆光电技术研究所,重庆光电技术研究所,重庆光电技术研究所,重庆光电技术研究所,重庆光电技术研究所,重庆光电技术研究所 重庆永川 632163,重庆永川 632163,重庆永川 632163,重庆永川 632163,重庆永川 632163,重庆永川 632163
摘    要:本文报导1.3μm InGaAsP/InP内条限制部分注入全金属化耦合封装侧面发光二极管的结构、制作及器件特性。在100mA工作电流下,器件尾纤出纤功率典型值40μW,最大超过60μW,光谱宽度70nm,上升/下降时间小于2.5ns。该器件是中短距离,中小容量光纤通信系统和光测量系统的理想光源。

关 键 词:光纤通信  发光二极管  金属化  封装
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