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| 一种针对非接触智能卡的抗干扰测试方法 | |
| 作者姓名： | 杨利华 |
| 作者单位： | 北京中电华大电子设计有限责任公司,射频识别芯片检测技术北京市重点实验室 |
| 摘 要： | 智能卡业界领域很少有专门针对非接触智能卡的抗干扰测试方法，但非接触智能卡同样存在数据健壮性问题，需要进行抗干扰测试，本文专门介绍一种非接触智能卡的抗干扰测试方法。 |
| 关 键 词： | 数据破坏 非接触智能卡 抗干扰测试 |
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