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面向下一代GaN功率技术的超薄势垒AlGaN/GaN异质结功率器件
引用本文:黄森,张寒,郭富强,王鑫华,蒋其梦,魏珂,刘新宇.面向下一代GaN功率技术的超薄势垒AlGaN/GaN异质结功率器件[J].电子与封装,2023(1):17-27.
作者姓名:黄森  张寒  郭富强  王鑫华  蒋其梦  魏珂  刘新宇
作者单位:1. 中国科学院微电子研究所高频高压器件与集成研发中心;2. 中国科学院大学集成电路学院
基金项目:中国科学院前沿科学重点研究项目(QYZDB-SSW-JSC012);;国家自然科学基金项目(62074161,6221101004,62004213,U20A20208);;国家重点研发计划(2018YFE0125700);
摘    要:Al GaN/GaN异质结型功率电子器件具有高工作温度、高击穿电压、高电子迁移率等优点,在推动下一代功率器件小型化、智能化等方面具有很大的材料和系统优势。从5种实现增强型GaN基功率电子器件的方法入手,重点介绍了采用超薄势垒Al GaN(小于6 nm)/GaN异质结实现无需刻蚀Al GaN势垒层的GaN基增强型器件的物理机理和实现方法。同时介绍了在超薄势垒Al GaN/GaN异质结构上实现增强型/耗尽型绝缘栅高电子迁移率晶体管单片集成的研究进展,进一步论证了在大尺寸Si基Al GaN/GaN超薄势垒平台上同片集成射频功率放大器、整流二极管、功率三极管等器件的可行性,为Si基GaN射频器件、功率器件、驱动和控制电路的单片集成奠定了技术基础。

关 键 词:氮化镓  功率电子器件  Al  GaN/GaN异质结  超薄势垒  增强型  功率集成
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