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三阱CMOS工艺单粒子闩锁研究
作者姓名:沈丹丹  高国平
作者单位:中国电子科技集团公司第五十八研究所
摘    要:随着数模混合电路在无线应用领域的发展,三阱工艺噪声隔离优点引起设计师的广泛兴趣。RF技术必须把在P-衬底上的模拟、数字和RF电路进行隔离。本文主要讨论三阱(Triple-Well)工艺的电路单粒子闩锁问题。

关 键 词:P-WELL  Deep-NWELL  单粒子闩锁  可靠性
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