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分类号
杂志ISSN号
三阱CMOS工艺单粒子闩锁研究
作者姓名:
沈丹丹
高国平
作者单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
摘 要:
随着数模混合电路在无线应用领域的发展,三阱工艺噪声隔离优点引起设计师的广泛兴趣。RF技术必须把在P-衬底上的模拟、数字和RF电路进行隔离。本文主要讨论三阱(Triple-Well)工艺的电路单粒子闩锁问题。
关 键 词:
P-WELL
Deep-NWELL
单粒子闩锁
可靠性
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