层次化设计方法在存储器内建自测试上的应用

本文简单介绍存储器内建自测试设计技术原理，针对具体的RTL实例，对自顶向下设计方法和层次化设计方法进行了比较。实例结果表明：层次化的设计方法在大型芯片的存储器内建自测试设计中，可以加速设计，减少设计迭代时间，大幅提高工作效率。