成败型产品一次抽样检验方案研究 |
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作者姓名: | 李根成 |
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作者单位: | 中国空空导弹研究院,河南省洛阳市471009 |
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摘 要: | 首先推导出了同时能满足检验上限、检验下限、生产方风险、使用方风险要求的一次抽样检验方案设计公式,并用GB/T 5080.5-1985中的数据验证了公式的正确性。之后推论出了同一产品在不同试验方案的鉴定结果可能完全相反。最后建议,应在鉴定试验前尽可能知晓产品的可靠性水平,从而可有目的地选择或设计试验方案,以求产品高概率通过鉴定试验。
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关 键 词: | 可靠性 抽样检验 抽检特性函数 生产方风险 使用方风险 |
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