| ICP-AES法测定铱化合物中杂质成分 |
| |
| 引用本文： | 徐锁平,杨萍,高志祥. ICP-AES法测定铱化合物中杂质成分[J]. 冶金分析, 2003, 23(2): 1-1 |
| |
| 作者姓名： | 徐锁平 杨萍 高志祥 |
| |
| 作者单位： | 北京有色金属研究总院,北京有色金属研究总院,北京有色金属研究总院 北京 100088 ,北京 100088,北京 100088 |
| |
| 摘 要： | 对铱化合物中的常见微量杂质Al,Ba,Au,Pd,Pt,Ru,Rh进行了分析研究。利用ICP-AES仪器的优异性能,通过对基体效应、光谱干扰、酸度影响、等离子体测定条件等方面的考察,确定了在铱基体中共存微量离子的检测条件。各离子的检出限分别为:Pt0.39μg/mL,Pd0.03μg/mL,Al0.051μg/mL,Ba0.0027μg/mL,Au0.025μg/mL,Ru0.045μg/mL,Rh0.13μg/mL。各金属离子回收率:95%～102%。相对标准偏差RSD均小于10%。本文所建立的方法,准
|
| 关 键 词： | ICP-AES Ir基体 杂质 |
| 文章编号： | 1000-7571(2003)02-0020-04 |
| 修稿时间： | 2002-09-11 |
Determination of common impurity contents in iridic compound by ICP-AES |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | ICP-AES matrix Ir impurity ions |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《冶金分析》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《冶金分析》下载免费的PDF全文 |
|
