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| RY-2W-15kΩ电阻器失效机理电子显微分析 | |
| 引用本文： | 阮世池.RY-2W-15kΩ电阻器失效机理电子显微分析[J].电子科技大学学报（自然科学版）,1999,28(1):103-107. |
| 作者姓名： | 阮世池 |
| 作者单位： | 1.电子科技大学电子材料分析中心 成都 610054 |
| 摘 要： | 利用电子显微分析法对失效电阻作了电子显微分析,查明了劣质的电阻器绝缘涂复层的防潮性能和防腐性能差。由于电阻器吸入了水汽和腐蚀性气体,引起电阻器的导电膜被电解腐蚀,最终导致电阻器失效。 |
| 关 键 词： | 电子显微分析 电阻器 绝缘涂复层 失效 |
| 收稿时间： | 1998-04-07 |
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