| 用SEM分析肼对高岭石的插层作用 |
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| 引用本文： | 陈洁渝,严春杰,谌祺. 用SEM分析肼对高岭石的插层作用[J]. 电子显微学报, 2002, 21(5): 775-776 |
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| 作者姓名： | 陈洁渝 严春杰 谌祺 |
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| 作者单位： | 中国地质大学测试中心,湖北,武汉,430074 |
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| 摘 要： | 高岭石属 1:1型层状硅酸盐 ,层间不含可交换性阳离子。其晶层构造是由一片硅氧四面体片[ＳｉＯ2 ]和一片铝氧八面体片 [ＡｌＯ2 (ＯＨ) 4 ]组成 ,层间由氢键联结。层间域一面为硅氧四面体的氧原子层 ,另一面为铝氧八面体的羟基层 ,两面原子的不对称分布使高岭石层间显极性[1] 。极性较强的分子可破坏高岭石层间的氢键 ,插入层间 ,使高岭石相邻片层间的作用力减弱 ,从而叠聚体发生剥离 ,通过这种方法可制备超细高岭土。本文采用肼插层高岭石 ,研究插层前后高岭土粒度的变化。实验方法(1)称取初步提纯的茂名高岭土样品 (Ｍ1) 10ｇ ,加入 85 %…
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| 关 键 词： | SEM 肼 高岭石 插层作用 高岭土 电子显微镜 硅酸盐 |
Studying the function of hydrazine-intercalated Kaolinite by SEM |
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