利用运算放大器和标准电阻在低频精密测量电容的非电桥法的初步研究 |
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引用本文: | R.McFee
,方正.利用运算放大器和标准电阻在低频精密测量电容的非电桥法的初步研究[J].电测与仪表,1973(6). |
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作者姓名: | R.McFee 方正 |
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摘 要: | 电容和损耗因数的高精密度测量,可以不用电容标准而用一种叫回转器的有源线路进行,回转器是用高增益的运算放大器和精密电阻器构成的。利用一种特殊的回转器线路,在这里对这种技术进行了理论分析。初步实验研究得出的损耗因数的值和精密电容制造者所作的测量相符,后者测试到百万分之4以内。这个理论指出,用更精心设计的仪器,在10—1000赫芝范围内,能夠以百万分之1—2的准确度测量0.01—1微法的电容,看来,这个准确度主要由回转器中的两个临界电阻的精密度决定。
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