| JEM-1200EX型电镜SENSITIVITY值与电子照射密度之间关系的测量分析 |
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| 引用本文： | 朱永哲,金英锦,文香兰,李英,姜重建,金奎龙. JEM-1200EX型电镜SENSITIVITY值与电子照射密度之间关系的测量分析[J]. 电子显微学报, 1999, 18(5) |
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| 作者姓名： | 朱永哲 金英锦 文香兰 李英 姜重建 金奎龙 |
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| 作者单位： | 延边大学医学院电镜室,延吉,133000 |
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| 摘 要： | ＳＥＮＳＩＴＩＶＩＴＹ（ＳＥ）代表电镜在照像时电子照射到电镜底片上的电子照射密度（σ）。通过测量、分析ＳＥ取各不同值时ＥＸＰＴＩＭＥ及其相应的ＣＵＲＲＥＮＴＤＥＮＳ的取值范围，计算出了与各ＳＥ值相对应的电子照射密度σ（即ＥＸＰＴＩＭＥ值与ＣＵＲＲＥＮＴＤＥＮＳ值的乘积）的取值范围。由此，分析、计算出ＳＥ与σ的函数关系及其关系曲线
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| 关 键 词： | 电子显微镜 电子照射密度 测量 函数 |
Measurement and analysis of the relationship between sensitivity value and the charge density by electronic irradiation on film of JEM-1200EX type electron microscope |
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| ZHU Yong-zhe,JIN Ying-jin,WEN Xiang-lan,LI Ying,JIANG Zhong-jian,JIN Kui-long. Measurement and analysis of the relationship between sensitivity value and the charge density by electronic irradiation on film of JEM-1200EX type electron microscope[J]. Journal of Chinese Electron Microscopy Society, 1999, 18(5) |
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| Authors: | ZHU Yong-zhe JIN Ying-jin WEN Xiang-lan LI Ying JIANG Zhong-jian JIN Kui-long |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | SENSITIVITY |
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