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| 芯片封装引线电性能的测试 | |
| 引用本文： | 李丙旺.芯片封装引线电性能的测试[J].集成电路通讯,2004,22(2):17-21. |
| 作者姓名： | 李丙旺 |
| 作者单位： | 中国兵器工业第214研究所,蚌埠233042 |
| 摘 要： | 随着集成电路的高速化、高集成化、高密度化封装的发展，封装引线的电性能对集成电路的影响越来越大，封装引线电性能的测试与控制也越显重要。 |
| 关 键 词： | 集成电路 引线电阻 引线电容 引线电感 封装引线 |
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