康普顿背散射探测的边缘效应研究 |
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引用本文: | 沈天明,陈嘉敏. 康普顿背散射探测的边缘效应研究[J]. 核电子学与探测技术, 2016, 0(5). DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2016.05.007 |
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作者姓名: | 沈天明 陈嘉敏 |
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作者单位: | 公安部第三研究所,上海,200031 |
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摘 要: | 康普顿背散射探测的边缘效应反映不同材质属性,为探测爆炸物、毒品等违禁品提供新思路。通过蒙特卡罗仿真与实验验证的方法,分析边缘效应与材质密度厚度等因素的关系,动态的理解背散射探测的特点。
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关 键 词: | 康普顿背散射 边缘效应 蒙特卡罗仿真 |
Study on Edge Effect In Compton Backscatter Detection |
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Abstract: |
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Keywords: | Compton backscatter edge effect Monte Carlo simulation |
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