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(20-300)kV X射线参考辐射装置的建立
引用本文:葛双,吴金杰,郭彬,王培玮,杨扬,邱小平.(20-300)kV X射线参考辐射装置的建立[J].核电子学与探测技术,2016(1):68-72.
作者姓名:葛双  吴金杰  郭彬  王培玮  杨扬  邱小平
作者单位:1. 南华大学核科学技术学院,衡阳421001; 中国计量科学研究院,北京100029;2. 中国计量科学研究院,北京,100029;3. 南华大学核科学技术学院,衡阳,421001
基金项目:质检公益性行业科研专项(201210003);中国计量科学研究院基本科研业务费(25-AKY1307)资助。
摘    要:为了推进X射线空气比释动能基准量值传递工作的开展,建立了(20-300)kV X射线参考辐射装置。距离X光管焦点1 m的均匀野处,建立了CCRI会议推荐的两组低能X射线参考辐射质50kV(a)和50 kV(b),采用拟合方法测量得到的半值层、同质系数与推荐值相差2%以内。通过蒙卡模拟软件EGSnrc研究两组参考辐射质的能谱分布情况,并计算了其平均能量,分别为33.3和28.1 keV。

关 键 词:参考辐射装置  参考辐射质  均匀野  半值层  谱分布

The Establishment of Reference Radiation Device in the range of (20-300) kV X-rays
Abstract:For promoting the work that the air -kerma primary standard value be transferred , the reference radi-ation device is established in the range of (20-300 ) kV X-rays.Two low-energy reference radiation quali-ties 50 kV ( a) and 50 kV ( b) recommend by CCRI are established on the uniform radiation field .The distance from the source to the reference plane is 1 m.Half-value layer and homogeneity coefficient are measured by the fitting method .The difference with the recommended values is within 2%.Their spectrum distribution can be got by Monte Carlo simulation software EGSnrc and their average energies are calculated to be 33.3 keV and 28 .1 keV respectively .
Keywords:Reference radiation devices  reference radiation qualities  uniform radiation field  half-value layer  spectrum distribution
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